E12500 - SEMI E125 - 装置自己記述（EqSD）の仕様 Revision:SEMI E125-0709 - Superseded 本スタンダードは，global Liquid Chemicals Committeeで技術的に承認されている。現版は2010年8月27日，global Audits

本スタンダードは，global Liquid Chemicals Committeeで技術的に承認されている。現版は2010年8月27日，global Audits and Reviews Subcommitteeにて発行が承認された。2010年10月にwww

Altogether

This Test Method requires the use of an oxygen-free reference specimen

SEMI HB1 — Specifications for Sapphire Wafers Intended for Use for Manufacturing High Brightness-Light Emitting Diode Devices

注意：　本安全ガイドラインは2003年全面的に書き換えられた。

E12500 - SEMI E125 - 装置自己記述（EqSD）の仕様 Revision:SEMI E125-0709 - Superseded 本スタンダードは，global Liquid Chemicals Committeeで技術的に承認されている。現版は2010年8月27日，global AuditsSubordinate Standards (included) SEMI E125. 1 0710 EqSDSOAP Referenced SEMI Standards (purchase separately) SEMI E30 Generic Model for Communications and Control of Manufacturing Equipment (GEM) SEMI E39 Object Services Standard: Concept, Behavior, and Services SEMI E120 Specification for the Common Equipment Model (CEM) SEMI E120. 1 XML Schema for the Common Equipment Model SEMI E121 Guide for Style & Usage of XML for Semiconductor Manufacturing